Mathematical formulation and circuit implementation of non-linear S-Box masking schemes resisting up to 100 million side-channel power traces.
Analizar desafíos en First- and Higher-Order Boolean Masking: Eliminating Power Analysis Leakage in AES Silicon requiere modelar penetración física y ataques de micro-sondaje FIB.
Se implementan blindajes activos y lógica dual-rail para lograr resistencia contra adversarios avanzados.
Pruebas rigurosas validan que el rendimiento criptográfico escala linealmente sin fugas de canal lateral.